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Ȁ光打标机?sh)光转换效率?/h2>
~辑   重庆(jin)初刻   发表?022-08-24

开发中采用仿真器方式对ARMpȝ的进行调试,通过ARM处理器的JTAG边界扫描口进行调试,q种方式由宿L、目标机和仿真器l成?

宿主机就是调试用的PC机,目标板就是嵌入式Ȁ光打标机控制器的核心(j)板,使用的仿真器是用于ARM9的专用仿真器?

JTAG调试是ARMpȝ调试时用最多的调试Ҏ(gu)QJTAG是一U常用的国际标准试协议Q主要用途有:芯片的内部测试,通过试其电(sh)气特性判断芯片是否有问题;对芯片及(qing)其外设进行系l仿真与调试。含有JTAG调试接口模块的芯片只要时钟正常,可以利用其JTAG接口来访问芯片内部的寄存器?

Ȁ光打标机?sh)光转换效率?/a>、整ZU小巧、输出光束质量好、可靠性高Q更h长的运行寿命,在加工上Q激光打标机可以快速地完成表面毛刺清除、字W和logo标记、品编号及(qing)条Ş码的标记Q在日常l护和用上Q激光打标机h灉|性强、电(sh)光{化率高、维护方便等优势。,分析F-θ镜头工作原理?qing)像差要求,?gu)1064nm半导体激光打标机的光源成像要求选择合适的ȝ材料Q合理分配每片透镜的光焦度.